Obszary badań:
- Pomiary parametrów układów i urządzeń w pasmie mikrofal.
- Charakteryzacja mikrofalowych elementów półprzewodnikowych “on-wafer”.
- Pomiary charakterystyk termicznych tranzystorów i układów elektronicznych z uwzględnieniem efektu samonagrzewania.
- Testowanie urządzeń grzania mikrofalowego.
Specjalistyczna aparatura:
- Wektorowe analizatory obwodów (VNA): R&S ZRVE (9kHz÷4GHz), HP8720C (50MHz÷20.5GHz), Agilent PNAX 4-kanałowy N5242A (10MHz÷26.5GHz) i PNAL N5230A (50MHz÷50GHz).
- Stacja pomiarowa “on-wafer” Cascade M150.
- Analizatory widma Agilent E4407B (5kHz÷26.5GHz) z opcją pomiaru szumów, R&S (10kHz÷2GHz).
- Generator programowalny Agilent E8267B (250kHz÷20GHz).
- Mierniki mocy na pasma do 26.5GHz i mierzonych mocy do 30W (CW) z tłumikami do 300W (CW) .
- Komora temperaturowa (Binder), testowa kuchenka mikrofalowa, system pomiaru przejściowej impedancji termicznej.
- System punkt-wielopunkt IRT2000 Lucent.
- Oscyloskopy: cyfrowy Agilent DSO serii 7, Tektronix TDS20222.
- Zestaw zasilaczy DC dużej mocy do 2kW (Sorensen).